Оборудование ДВЦСИ
	Рентгеновский дифрактометр SMART APEXII CCD (Bruker, Германия, 1999) Рентгеноструктурные исследования монокристаллов неорганического, органического и биоорганического происхождения. Низкотемпературная приставка позволяет проводить измерения в диапазоне температур от 100 до 300 К.
	Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker, Германия, 2003) Исследование поликристаллических, аморфных веществ и тонких пленок. Качественный и количественный рентгенофазовые анализы поликристаллических объектов, в т.ч. при изменении температуры, в вакууме или в атмосфере различных газов в диапазоне температур от 83 до 700 К. Горизонтальное положение образца расширяет круг исследуемых объектов, давая возможность проводить измерения жидкостей (расплавов и растворов), а также массивных образцов больших размеров и неправильной формы.
	Двухмодульная рентгеновская система для исследования твердотельных материалов (STOE STADI Р, Германия, 2008) Исследование твердотельных материалов рентгенодифракционными методами. Двухмодульная система позволяет использовать одновременно два независимых гониометра - в геометрии на пропускание (в т.ч. в капилляре) и на отражение. Использование сфокусированного Си-Кп1-излучения обеспечивает данные с прекрасным угловым разрешением и надежным определением интенсивностей от малого количества образца, что позволяет решать задачи по определению различных структурных характеристик поликристаллических материалов, таких как анализ текстурированного и напряженного состояния поликристаллических объектов, а также исследовать атомное строение неорганических и органических соединений.
	Рентгеновский дифрактометр Kappa APEXII (Bruker, Германия, 2010) Рентгеноструктурные исследования атомных структур монокристаллов различной природы и изучение диффузного рассеяния. Температурная приставка позволяет проводить измерения в диапазоне температур от 80 до 430 К.
	Жидкостный хроматограф LC-20A (Shimadzu, Япония, 2005) Количественный химический анализ органических и неорганических веществ. Анализ полиароматических углеводородов (ПАУ), определение молекулярно-массового распределения (ММР) природных и синтетических полимеров, анализ лекарственных препаратов и пищевых продуктов.
	Квадрупольный масс-спектрометр LCMS-2010EV (Shimadzu, Япония, 2007) Количественный химический анализ органических и неорганических веществ. Установление состава и структуры веществ в сложных природных и искусственных смесях. Технологический контроль в химической и нефтехимической промышленности.
	Газовый хроматомасс-спектрометр GCMS-QP2010 (Shimadzu, Япония, 2006) Исследование состава природных и синтетических полимеров, в том числе и фторсодержащих. Качественный и количественный анализ сложных смесей органических и неорганических веществ, в том числе технологических осадков, донных отложений и кернов. Технологический контроль в химической и нефтехимической промышленности.
	Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-800HS (Shimadzu, Япония, 2009) Элементный анализ твердых, жидких образцов, порошков, пленок в атмосфере воздуха, гелия или в вакууме. Определяемые элементы от С до U. Анализ состава и дефектов тонких пленок, полупроводников, магнито-оптических дисков, жидких кристаллов. Определение Ni, V, S, других элементов в нефтепродуктах и присадках. Определение неизвестных веществ в смазочных материалах. Анализ керамических материалов, цементов, стекол и глин; черных, цветных и благородных металлов, руд и сплавов; почв и удобрений; пищевых продуктов. Определение толщины и композиционного состава покрытий.